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測試老化

先進封裝測試老化半導體封裝高精密滑臺芯片測試

測試老化

測試老化類

COC老化機

? 整機包含10個老化單元,最大可同時老化5120個COC
? 每個單元可裝載4個抽屜,老化抽屜獨立控制
? 老化抽屜離線裝載夾具
? 老化環境溫度60~100℃可設置

COC測試機

? 彈匣式自動上下料,可裝載20個COC魚骨夾具,共640個COC
? 48/32位COC夾具同時適配于老化機和金線機
? 雙平臺設計,節約上下料和控溫等待時間
? TEC控溫(20~100℃),滿足控溫精度及穩定度
? 支持LIV和光譜測試
? 支持背光功率測試功能

COS/TO老化機

? 整機包含20個老化單元,最大可同時老化640個COS(與電源規格有關)/TO9(RGB)
? 每個單元可裝載2個抽屜,老化抽屜離線裝載COS
? 支持獨立在線光功率監控
? Pump和工業激光器COS處理能力

高功率COS測試機

? 全密閉箱體設計,測試環境溫度0~100℃可設置
? 支持LIV、PER、光譜和遠場測試
? Pump和工業激光器COS處理能力
? 測試夾具與老化機通用

工業激光器COS老化機

? 高容量,整機384通道
? 支持CW及QCW模式老化
? 失效產品單顆下電功能
? 獨立通道在線光功率,溫度及電壓監控,實時掌控老化狀態
? 預留波長讀取接口,用于進行芯片結溫標定
? 豐富的報警及處理機制,確保人員、芯片及設備安全

自動轉料機

用于COC在Carrier與其他料盤之間轉載、OCR及分揀系統信息綁定

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